NVMe SSD性能影响因素
NVMe SSD 厂商Spec给出的性能非常完美，前面也给出了NVMe SSD和磁盘之间的性能对比，NVMe SSD的性能的确比磁盘高很多。但在实际应用过程中，NVMe SSD的性能可能没有想象中的那么好，并且看上去不是特别的稳定，找不到完美的规律。和磁盘介质相比，SSD的性能和很多因素相关，分析SSD的性能影响因素，首先需要大体了解SSD构成的主要部分。
如下图所示，其主要包括主机CPU、PCIe互连带宽、SSD控制器及FTL软件、后端NAND Flash带宽、NAND Flash介质。影响SSD性能的主要因素可以分成硬件、软件和客观环境三大部分，具体分析如下。1， 硬件因素
a) NAND Flash本身。不同类型的NAND Flash本身具有不同的性能，例如SLC的性能高于MLC，MLC的性能优于TLC。选择不同的工艺、不同类别的NAND Flash，都会具有不同的性能。
b) 后端通道数（CE数量）及总线频率。后端通道数决定了并发NAND Flash的数量，决定了并发能力。不同的SSD控制器支持不同数量的通道数，也决定了SSD的后端吞吐带宽能力。
NAND Flash Channel的总线频率也决定了访问Flash的性能。
c) SSD控制器的处理能力。SSD控制器中会运行复杂的FTL（Flash Translation Layer）处理逻辑，将逻辑块读写映射转换成NAND Flash 读写请求。在大数据块读写时，对处理器能力要求不是很高；在小数据块读写时，对处理器能力要求极高，处理器能力很容易成为整个IO系统的性能瓶颈点。
d) SSD控制器架构。通常SSD控制器采用SMP或者MPP两种架构，早期的控制器通常采用MPP架构，多个小处理器通过内部高速总线进行互连，通过硬件消息队列进行通信。内存资源作为独立的外设供所有的处理器进行共享。这种架构和基于消息通信的分布式系统类似。MPP架构的很大优势在于性能，但是编程复杂度较高；SMP架构的性能可扩展性取决于软件，编程简单，和在x86平台上编程相似。不同的控制器架构会影响到SSD的总体性能，在SSD设计时，会根据设计目标，选择不同类型的SSD控制器。
e) 内存支持容量。为了追求高性能，SSD内部的映射资源表会常驻内存，映射表的内存占用大小是盘容量的0.1%，当内存容量不够大时，会出现映射表换入换出的问题，影响到性能。
f) PCIe的吞吐带宽能力。PCIe前端带宽体现了SSD的前端吞吐能力，目前NVMe SSD采用x4 lane的接入方式，上限带宽为3GB/s，当后端NAND Flash带宽和处理器能力足够时，前端PCIe往往会成为性能瓶颈点。NANDFlash具有很高的读性能，目前来看，SSD的读性能在很大程度上受限于PCIe总线，因此需要快速推进PCIe4.0标准。
g) 温度对性能造成影响。在NAND Flash全速运行的情况下，会产生较大的散热功耗，当温度高到一定程度时，系统将会处于不正常的工作状态，为此，SSD内部做了控温系统，通过温度检测系统来调整SSD性能，从而保证系统温度维持在阈值之内。调整温度会牺牲性能，本质上就是通过降低SSD性能来降温。因此，当环境温度过高时，会影响到SSD的性能，触发SSD内部的温度控制系统，调节SSD的性能。
h) 使用寿命对性能造成影响。NAND Flash在不断擦除使用时，Flash的bit error会不断上升，错误率的提升会影响到SSD的IO性能。
2， 软件因素
a) 数据布局方式。数据布局方法需要充分考虑NAND Flash中的并发单元，如何将IO操作转换成NAND Flash的并发操作，这是数据布局需要考虑的问题。例如，采用数据交错的方式在多通道page上进行数据布局，通过这种方式可以优化顺序带宽。
b) 垃圾回收/wear leveling调度方法。数据回收、wear leveling、data retention等操作会产生大量的NANDFlash后端流量，后端流量直接反应了SSD的写放大系数，也直接体现在后端带宽的占用。垃圾回收等产生的流量也可以称之为背景流量，背景流量会直接影响到前端用户性能。因此需要对背景流量和用户流量之间进行合理调度，使得用户IO性能达到最佳。
c) OP预留。为了解决坏块、垃圾回收等问题，在SSD内部预留了一部分空闲资源，这些资源被称之为OP（Overprovisioning）。OP越大，GC过程中平均搬移的数据会越少，背景流量会越小，因此，写放大降低，用户IO性能提升。
反之，OP越小，性能会越低，写放大会越大。在SSD容量较小的时代，为了提升SSD的使用寿命，往往OP都设置地比较大。
d) Bit error处理影响性能。在SSD内部采用多种机制来处理NAND Flash所产生的Bit error。ECC纠错、readretry、soft LDPC以及RAIN都是用来纠正bit翻转导致的错误。当Bit错误率增加时，软件处理的开销越大，在bit控制在一定范围之内，完全可以通过硬件进行纠正。
一旦软件参与到bit纠正的时候，会引入较大的性能开销。
e) FTL算法。FTL算法会影响到SSD性能，对于不同用途的SSD，FTL的设计与实现是完全不同的，企业级SSD为了追求高性能，通常采用Flat mapping的方式，采用大内存缓存映射表；消费级SSD为了追求低成本，通常采用元数据换入换出的方式，并且采用pSLC+TLC的组合方式进行分层存储，也可以采用主机端内存缓存元数据信息，但是这些方式都会影响到性能。
f) IO调度算法。NAND Flash具有严重的性能不对称性，Flash Erase和Program具有ms级延迟，Flash read的延迟在us级。因此，如何调度Erase、Program以及read是SSD后端设计需要考虑的问题。
另外，前端IO以及背景IO之间的调度也是需要权衡考虑，通过IO调度可以达到最佳性能表现。在IO调度过程中，还需要利用NANDFlash的特性，例如Program Suspension，通过这些特性的利用，最优化SSD前端IO性能。
g) 驱动软件。驱动软件运行在主机端，通常分为内核态和用户态两大类，内核态驱动会消耗较多的CPU资源，存在频繁上下文切换、中断处理，因此性能较低；用户态驱动通常采用Polling IO处理模式，去除了上下文切换，可以充分提升CPU效率，提升整体IO性能。
h) IO Pattern对性能产生影响。IO Pattern影响了SSD内部的GC数据布局，间接影响了GC过程中的数据搬移量，决定了后端流量。当IO Pattern为全顺序时，这种Pattern对SSD内部GC是最为友好的，写放大接近于1，因此具有最好的性能；当IO Pattern为小块随机时，会产生较多的GC搬移数据量，因此性能大为下降。在实际应用中，需要通过本地文件系统最优化IO Pattern，获取最佳性能。
3， 客观因素
a) 使用时间越长会导致SSD性能变差。使用时间变长之后，SSD内部NAND Flash的磨损会加重，NAND Flash磨损变大之后会导致bit错误率提升。在SSD内部存在一套完整的bit错误恢复机制，由硬件和软件两大部分构成。当bit错误率达到一定程度之后，硬件机制将会失效。
硬件机制失效之后，需要通过软件（Firmware）的方式恢复翻转的bit，软件恢复将会带来较大的延迟开销，因此会影响到SSD对外表现的性能。在有些情况下，如果一块SSD在掉电情况下放置一段时间之后，也可能会导致性能变差，原因在于SSD内部NAND Flash中存储电荷的漏电，放置一段时间之后导致bit错误率增加，从而影响性能。SSD的性能和时间相关，本质上还是与NAND Flash的比特错误率相关。
b) 环境温度也会对性能造成影响。为了控制SSD温度不能超过上限值，在SSD内部设计有一套温度负反馈机制，该机制通过检测的温度对NAND Flash后端带宽进行控制，达到降低温度的效果。如果一旦温度负反馈机制开始工作，那么NAND Flash后端带宽将会受到限制，从而影响前端应用IO的性能。下面从软件的角度出发，重点阐述GC以及IO Pattern对SSD性能的影响。
3.1 GC对性能的影响
SSD内部有一个非常厚重的软件层，该软件层用来解决NAND Flash的问题，采用log-structured的方式记录数据。Log-structured方式引入了GC的问题，对于前端业务来讲，GC流量就是背景噪声。
GC流量不是时时刻刻存在的，因此，SSD对外体现性能大幅度波动。当SSD为空盘时，性能会非常好，为最佳性能；当SSD被用过一段时间之后，性能会大幅降低。其中GC起到了很重要的作用。企业级SSD在发布Spec的时候，都会发布SSD盘的稳态性能。在性能测试的时候，需要对盘进行老化预处理。
通常预处理的方法是顺序写满盘，然后再随机两遍写盘，预处理完成之后，再对盘进行随机读写测试，得到Spec中定义的值。稳态值基本可以认为是盘的下限性能。上图所示是多个厂商的盘在空盘和稳态情况下的性能对比，由此可见稳态情况和空盘情况下的性能差距很大。在稳态情况下，SSD内部的GC会全速运行，会占用较多的NAND Flash后端带宽。
背景流量和前端数据流的比例也就体现了SSD盘的写放大系数，写放大系数越大，背景流量占用带宽越多，SSD对外体现的前端性能也就越差。写放大系数很多因素相关，例如OP、应用IO Pattern等。如果应用IO Pattern比较好，那么可以降低写放大系数，背景噪声流就会减少，前端业务的性能会提升。
例如，在SSD完全顺序写入的情况下，写放大系数可以接近于1，此时GC产生的数据流很少，背景流量基本没有，后端带宽基本被业务数据流占用，因此对外体现的性能会很好。GC是影响性能的重要因素，除了影响性能之外，GC会增大写放大，对SSD的使用寿命产生影响。
从软件层面的角度考虑，可以通过优化应用IO Pattern的方式优化SSD内部GC，从而进一步提升SSD的性能，优化使用寿命。对于下一代更为廉价的QLC SSD介质，就需要采用这种优化思路，否则无法很好地满足实际业务的应用需求。
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